國(guó)產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀器 XTD系列測(cè)厚儀，專業(yè)表面處理檢測(cè)解決方案： XTD系列測(cè)厚儀，于檢測(cè)各種異形件，特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。
鍍金測(cè)試儀 鍍層分析儀 1.精密的三維移動(dòng)平臺(tái) 2.的樣品觀測(cè)系統(tǒng) 3.的圖像識(shí)別 4.輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè) 5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換 6.雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞 7.采用大面積高分辨率探測(cè)器，有效降低檢出限，提高測(cè)試精度
電鍍測(cè)厚儀,X熒光鍍層測(cè)厚儀 涂層膜厚儀 鍍層生產(chǎn)廠家$n XTU系列測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開(kāi)槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。$n 搭配微聚焦射線管和*的光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。$n 檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測(cè)量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。$n外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣
PCB板材膜厚儀電鍍層測(cè)厚儀XTU 系列測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開(kāi)槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。 搭配微聚焦射線管和*的光路設(shè)計(jì)，及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測(cè)量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，
引線框架測(cè)厚儀 下照式設(shè)計(jì)：快速方便的定位各種形狀的樣品，滿足一切測(cè)試所需。 無(wú)損變焦檢測(cè)：擁有手動(dòng)變焦功能，可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-30mm。 微聚焦射線裝置：可測(cè)試各微小的部件，小檢測(cè)面積可達(dá)0.002mm²。 高效率的接收器：在檢測(cè)0.01mm²以下的樣品時(shí)，幾秒鐘也可達(dá)到穩(wěn)定性。 精密微型滑軌：精密的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，快速定位所需檢測(cè)的樣品
鍍層厚度分析儀，電鍍層測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來(lái)進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過(guò)前置放大器放大，再由測(cè)厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。
X射線鍍層厚度分析儀,X熒光光譜儀： Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是專門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
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