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鍍層厚度測試儀,測厚儀

鍍層厚度測試儀,測厚儀

簡要描述:

鍍層厚度測試儀,測厚儀:滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求、高精度移動平臺可定位測試點,重復(fù)定位精度小于0.005mm、采用高度定位激光,可自動定位測試高度、定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊、鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)、良好的射線屏蔽作用、測試口高度敏感性傳感器保護(hù)

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  • 分析含量:ppm到99.9%
  • 溫度適應(yīng)范圍:15℃至30℃
  • 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
  • 樣品腔尺寸:439mm×300mm×50mm
  • 分析范圍:同時可以分析30種以上元素,五層鍍層
  • 移動平臺:精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。

 膜厚儀又叫膜厚計、膜厚測試儀,分為磁感應(yīng)鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。采用磁感應(yīng)原理時,應(yīng)用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也能夠測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。   膜厚儀采用磁感應(yīng)原理時,應(yīng)用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也能夠測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。應(yīng)用磁感應(yīng)原理的測厚儀,準(zhǔn)繩上能夠有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。假如覆層資料也有磁性,則請求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,丈量感應(yīng)電動勢的大小,儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),應(yīng)用磁阻來調(diào)制丈量信號。還采用設(shè)計的集成電路,引入微機(jī),使丈量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的進(jìn)步(簡直達(dá)一個數(shù)量級)。   磁性原理膜厚儀可應(yīng)用來準(zhǔn)確丈量鋼鐵外表的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

鍍層厚度測試儀,測厚儀

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求、高精度移動平臺可定位測試點,重復(fù)定位精度小于0.005mm、采用高度定位激光,可自動定位測試高度、定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊、鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)、良好的射線屏蔽作用、測試口高度敏感性傳感器保護(hù)

鍍層厚度測試儀,測厚儀

型號:Thick 800A、元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)、同時可以分析30種以上元素,五層鍍層、分析含量一般為ppm到99.9% 、鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)、任意多個可選擇的分析和識別模型、相互獨立的基體效應(yīng)校正模型、多變量非線性回收程序、度適應(yīng)范圍為15℃至30℃、電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源、外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm、樣品室尺500(W)×350(D)×140(H) mm、重量:90kg


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