國產(chǎn)膜厚儀價(jià)格 鍍層厚度檢測儀:用X射線照射試樣時(shí),試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強(qiáng)度,以進(jìn)行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。
國產(chǎn)膜厚儀價(jià)格 鍍層厚度檢測儀
X射線熒光光譜儀工作原理介紹
用X射線照射試樣時(shí),試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強(qiáng)度,以進(jìn)行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長,同時(shí)又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型和能量色散型。下是這兩類儀器的原理圖。
用X射線照射試樣時(shí),試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強(qiáng)度,以進(jìn)行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長,同時(shí)又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型和能量色散型。下圖是這兩類儀器的原理圖。
X射線熒光光譜儀分析的一般步驟是:選擇分析方法,樣品制備,儀器參數(shù)選擇與校準(zhǔn)曲線的制作,試樣分析。
無損天瑞X熒光光譜鍍層膜厚檢測儀,天瑞鍍層測厚儀
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
儀器介紹
Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點(diǎn)測試,由軟件控制儀器的測試點(diǎn),以及移動平臺。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
國產(chǎn)膜厚儀價(jià)格 鍍層厚度檢測儀標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實(shí)現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
無損天瑞X熒光光譜鍍層膜厚檢測儀,天瑞鍍層測厚儀